PKUSE_Lhs的个人空间 https://blog1.eetop.cn/?1779024 [收藏] [复制] [分享] [RSS]

日志

probe pad/test pad/bonding pad

已有 1088 次阅读| 2023-8-29 15:29 |个人分类:版图|系统分类:芯片设计

probe pad是需要在CP时候 用探针卡点上去测试或者trimming用的, 所以probe pad是有一定的排列规则的。一般size: 60*60um左右,分布在芯片边缘一排 就可以。如果有特殊的要求,那就要和封装测试工程师确认了。

test pad一般定义是人工探针的开窗, 所以尺寸比较小10*10um~20*20um都有。 排列也较随意无特殊规则。

bonding pad就是需要键合金线的PAD。 尺寸60um~80um左右, 结构design rule会详细规定的。



点赞

评论 (0 个评论)

facelist

您需要登录后才可以评论 登录 | 注册

  • 0

    周排名
  • 0

    月排名
  • 0

    总排名
  • 1

    关注
  • 0

    粉丝
  • 0

    好友
  • 1

    获赞
  • 1

    评论
  • 0

    访问数

手机版| 小黑屋| 关于我们| 联系我们| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2025-5-24 14:06 , Processed in 0.142701 second(s), 14 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
返回顶部